NI半导体测试应用有奖知识小测验(第二期)|半导体测试 - bet36体育在线投注

NI半导体测试平台

许多半导体的检验与特性实验室,都依赖机架堆叠仪器搭配大量的手动测试程序,而生产测试单位则使用完整、高效通的昂贵自动化测试设备ATE来完成。从实验室到产线所采用的测试方法不同,很难能够进行很好的关联(correlation),使得整体的测试成本难以降低。因此最佳的系统优化应透过通用的统一的测试平台,可因应设计检验到生产测试而随时调整、让设计与测试部门可轻松共用资料、以现有的半导体技术搭配最新功能,进而降低成本。

NI​方法​的​优势
  • 降低​测试​成本

    一个​适用​于​从​特性​分析​到​生产​的​平台​方法,​为​RF​和​混合​信号​测试​提供​了​更​低成本​的​高性能​测试​解决​方案。

  • 更​快速​的​测试

    NI​半导体​测试​客户​反映:​在​满足​测量​和​性能​要求​的​同时,​测试​时间​缩短​了​10​倍。

  • 更​精准​的​测量

    NI​产品​提供​了​业界​领先​的​测量​精度,​并​通过​NI​校准​和​系统​服务​来​确保​精度​的​长期​有效性。

第一轮6月19日,抽取二等奖: 罗马仕5000mAh 移动电源(8名);

第二轮7月14日,抽取三等奖: 20元话费充值(20名),
及一等奖: 头戴式蓝牙耳机(1名)。

问答问题

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